日本TET半导体ESD测试仪

● 满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准

● ESD波形自动测试

● 对应引脚组合测试

● 高达8kV HBM测试

● 采用高规格电源进行破坏判定

日本TET半导体ESD测试仪ESD试验：

ESD放电波形满足MIL、JEDEC、ESDA、AEC、JEITA标准。本机通过安装在2轴机器人上的ESD脉冲发生EPG模块和继电器矩阵板的组合，使ESD施加引脚和返回引脚能自由设定。由于可以设置复数的ESD的返回引脚，所以可以进行全部引脚组合的ESD试验。可选配示波器、电流探头和衰减器，简单的进行ESD波形的自动测试。

闩锁试验：

可进行电流脉冲(ip)，电压脉冲(vp)，电源脉冲(vt)和ESD脉冲作为触发源的闩锁试验。      

MODEL 7000B通过输入引脚的上拉/下拉功能和时钟/脉冲图形信号，可以容易的使被测物达到稳定。评价闩锁温度依赖性的高温闩锁试验也可作为选件追加。

日本TET半导体ESD测试仪测试满足：

● 满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准

● ESD波形自动测试

● 对应引脚组合测试

● 高达8kV HBM测试

● 采用高规格电源进行破坏判定

日本TET半导体ESD测试仪ESD试验：

ESD放电波形满足MIL、JEDEC、ESDA、AEC、JEITA标准。本机通过安装在2轴机器人上的ESD脉冲发生EPG模块和继电器矩阵板的组合，使ESD施加引脚和返回引脚能自由设定。由于可以设置复数的ESD的返回引脚，所以可以进行全部引脚组合的ESD试验。可选配示波器、电流探头和衰减器，简单的进行ESD波形的自动测试。

闩锁试验：

可进行电流脉冲(ip)，电压脉冲(vp)，电源脉冲(vt)和ESD脉冲作为触发源的闩锁试验。      

MODEL 7000B通过输入引脚的上拉/下拉功能和时钟/脉冲图形信号，可以容易的使被测物达到稳定。评价闩锁温度依赖性的高温闩锁试验也可作为选件追加。
https://www.chem17.com/st573720/product_37969870.html
http://www.tzelec.cn/Products-37969870.html